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Keyboard Gap AOI 检测

Keyboard Gap AOI 检测

详细介绍


设备特点:

1、Gap测量与Keycap Hight/low测量合二为一 高效率,节省人工,节省空间,减少维护成本
2、Gap测量重复精度为0.015mm,Hight/Low测量重复精度为0.02mm
3、测量速度快以带数字键的键盘为例,包含进出料总时间小于18s
4、操作简单,线员只要放好键盘,按下进料键即可自动检测,输出结果
5、兼容性强,目前量试没有问题,可兼容, US、UK、JP,长、短 ,黑色Frame黑色Keycap、银色Frame黑色KeyCap,喷砂、不喷砂。
共3*2*2*2=24种键盘。
6、配方设置简单,切换配方小于10分钟。


软件界面图:

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本文网址:http://www.szbeiwosi.com/product/554.html

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